发明名称 | 超声波检查装置 | ||
摘要 | 本发明的超声波检查装置的特征在于,为了在跟踪选通方式中稳定地得到F选通,而具备:取得部(113),其取得来自超声波检查的被检测体的反射回波的数据即波形数据;触发点设定处理部(115),其在成为处理对象的波形数据中,基于从其他波形数据取得的触发点设定用于检测基准波的插补触发点;F选通处理部(116),其基于设定的插补触发点,针对接着成为处理对象的波形数据后的数据设定F选通,判定该F选通内的检测波的有无;显示器,其显示与检测波的有无有关的信息。 | ||
申请公布号 | CN105452859A | 申请公布日期 | 2016.03.30 |
申请号 | CN201480043225.3 | 申请日期 | 2014.10.23 |
申请人 | 株式会社日立电力解决方案 | 发明人 | 大和谷直史;菊池修;北见薰;高田雅文;菅谷夏树 |
分类号 | G01N29/38(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/38(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 曾贤伟;郝庆芬 |
主权项 | 一种超声波检查装置,其特征在于,具备:取得部,其取得来自超声波检查的被检测体的反射回波的数据即波形数据;S选通处理部,其对取得的上述波形数据,进行以下的S选通处理,即用于在为了检测基准回波而设定的S选通中,检测出上述波形数据的值超过预先设定的阈值的时刻即触发点;判定部,其判定上述S选通处理的结果是否检测出上述触发点;触发点设定处理部,其在通过上述判定部判定为没有检测出上述触发点的情况下,在成为处理对象的波形数据中,基于在其他波形数据中检测出的触发点来设定上述触发点;F选通处理部,其基于上述设定的触发点,设定用于检测作为目标的波形的F选通。 | ||
地址 | 日本茨城县 |