发明名称 正弦信号的频率检测方法和系统
摘要 本发明涉及一种正弦信号的频率检测方法和系统,包括:对采样所得的正向信号序列进行方向输出生成反褶序列;分别对正向信号序列和反褶序列进行截短生成两组截短信号序列;生成四组实频向量序列和虚频向量序列;对四组虚频向量序列和实频向量序列数字陷波,生成四组虚数向量陷波序列和实数向量陷波序列,进而积分生成四组虚数向量积分值和实数向量积分值;将四组实数向量积分值和虚数向量积分值转换为四个相位,将四个相位进行扩展转换为扩展相位;将四个扩展相位转换为初相位和截止相位,将截止相位与初相位的差值转换为全相位差;将所述预设采样频率、所述预设序列长度和所述全相位差转换为所述正弦信号的频率。本发明能获得准确度较高的频率。
申请公布号 CN105445547A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201510400120.5 申请日期 2015.07.09
申请人 深圳市科润宝实业有限公司 发明人 徐庆伟;李鑫亮
分类号 G01R23/12(2006.01)I 主分类号 G01R23/12(2006.01)I
代理机构 深圳市精英专利事务所 44242 代理人 冯筠
主权项 一种正弦信号的频率检测方法,其特征在于,包括以下步骤:根据正弦信号频率范围的下限和预设采样频率及预设信号周期数,获得初步采样序列长度;根据所述初步采样序列长度,对所述正弦信号进行初步采样,获得所述正弦信号的初步采样序列;对所述初步采样序列进行频率初测,生成所述正弦信号的初步频率,以所述初步频率给定参考频率;根据预设采样频率和所述参考频率计算所述正弦信号的单位周期序列长度;根据所述预设信号周期数和所述单位周期序列长度,获得预设序列长度;根据预设序列长度,从所述初步采样序列中,获得正向信号序列;将所述正向信号序列反向输出,获得所述正向信号序列的反褶序列;分别将所述反褶序列和所述正向信号序列进行截短,获得序列长度相同的反褶截短序列和正向截短序列;以所述参考频率的余弦函数和所述参考频率的正弦函数分别与所述反褶序列相乘,生成第一实频向量序列和第一虚频向量序列;以所述参考频率的余弦函数和所述参考频率的正弦函数分别与所述反褶截短序列相乘,生成第二实频向量序列和第二虚频向量序列;以所述参考频率的余弦函数和所述参考频率的正弦函数分别与所述正向信号序列相乘,生成第三实频向量序列和第三虚频向量序列;以所述余弦函数和所述正弦函数分别与所述正向截短序列相乘,生成第四实频向量序列和第四虚频向量序列;分别对所述第一实频向量序列和所述第一虚频向量序列进行数字陷波,生成第一实频向量陷波序列和第一虚频向量陷波序列;分别对所述第一实频向量陷波序列和所述第一虚频向量陷波序列进行积分运算,生成第一实频向量积分值和第一虚频向量积分值;分别对所述第二实频向量序列和所述第二虚频向量序列进行数字陷波,生成第二实频向量陷波序列和第二虚频向量陷波序列;分别对所述第二实频向量陷波序列和所述第二虚频向量陷波序列进行积分运算,生成第二实频向量积分值和第二虚频向量积分值;分别对所述第三实频向量序列和所述第三虚频向量序列进行数字陷波,生成第三实频向量陷波序列和第三虚频向量陷波序列;分别对所述第三实频向量陷波序列和所述第三虚频向量陷波序列进行积分运算,生成第三实频向量积分值和第三虚频向量积分值;分别对所述第四实频向量序列和所述第四虚频向量序列进行数字陷波,生成第四实频向量陷波序列和第四虚频向量陷波序列;分别对所述第四实频向量陷波序列和所述第四虚频向量陷波序列进行积分运算,生成第四实频向量积分值和第四虚频向量积分值;根据预设的相位转换规则,将所述第一虚频向量积分值与所述第一实频向量积分值转换为第一相位;根据预设的相位转换规则,将所述第二虚频向量积分值与所述第二实频向量积分值转换为第二相位;根据预设的相位转换规则,将所述第三虚频向量积分值与所述第三实频向量积分值转换为第三相位;根据预设的相位转换规则,将所述第四虚频向量积分值与所述第四实频向量积分值转换为第四相位;根据预设的相位扩展规则,对所述第一相位进行扩展,获得第一扩展相位;根据预设的相位扩展规则,对所述第二相位进行扩展,获得第二扩展相位;根据预设的相位扩展规则,对所述第三相位进行扩展,获得第三扩展相位;根据预设的相位扩展规则,对所述第四相位进行扩展,获得第四扩展相位;根据预设的截止相位转换规则,将所述第一扩展相位和所述第二扩展相位转换为所述正弦信号的截止相位;根据预设的初相位转换规则,将所述第三扩展相位和所述第四扩展相位转换为所述正弦信号的初相位;将所述截止相位与所述初相位的差值转换为所述正弦信号的全相位差;将所述预设采样频率、所述预设序列长度和所述全相位差转换为所述正弦信号的频率。
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