发明名称 一种测量碳纳米管手性的方法及装置
摘要 本发明涉及一种原位测量碳纳米管手性的方法,包括以下步骤:S1提供待测碳纳米管;S2将所述待测碳纳米管置于耦合液中;S3提供一束具有连续光谱的白色入射光,所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射;S4利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管,获取该待测碳纳米管的位置信息,观测时该水镜浸没于所述耦合液中;S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱,根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。本发明还涉及一种利用该方法测量碳纳米管手性的装置。
申请公布号 CN105445230A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201410434385.2 申请日期 2014.08.29
申请人 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 发明人 武文贇;岳菁颖;林晓阳;赵清宇;姜开利;范守善
分类号 G01N21/49(2006.01)I 主分类号 G01N21/49(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种测量碳纳米管手性的方法,包括以下步骤:S1 提供待测碳纳米管;S2 将所述待测碳纳米管置于耦合液中;S3 提供一束具有连续光谱的白色入射光,所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射;S4 利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管,获取该待测碳纳米管的位置信息,观测时该水镜浸没于所述耦合液中;S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱,根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。
地址 100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室