发明名称 |
一种测量碳纳米管手性的方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及一种原位测量碳纳米管手性的方法,包括以下步骤:S1提供待测碳纳米管;S2将所述待测碳纳米管置于耦合液中;S3提供一束具有连续光谱的白色入射光,所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射;S4利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管,获取该待测碳纳米管的位置信息,观测时该水镜浸没于所述耦合液中;S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱,根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。本发明还涉及一种利用该方法测量碳纳米管手性的装置。 |
申请公布号 |
CN105445230A |
申请公布日期 |
2016.03.30 |
申请号 |
CN201410434385.2 |
申请日期 |
2014.08.29 |
申请人 |
清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 |
发明人 |
武文贇;岳菁颖;林晓阳;赵清宇;姜开利;范守善 |
分类号 |
G01N21/49(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/49(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种测量碳纳米管手性的方法,包括以下步骤:S1 提供待测碳纳米管;S2 将所述待测碳纳米管置于耦合液中;S3 提供一束具有连续光谱的白色入射光,所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射;S4 利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管,获取该待测碳纳米管的位置信息,观测时该水镜浸没于所述耦合液中;S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱,根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。 |
地址 |
100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室 |