发明名称 微电阻测试装置
摘要 本实用新型公开了一种微电阻测试装置,用于测试电路板的微电阻,所述微电阻装置包括测试机构、驱动机构和控制机构,所述测试机构包括基座、工作台、测试治具、测试模组和电荷耦合图像传感仪,所述工作台包括下固定台和上固定台,所述测试治具包括下夹具和上夹具,所述上夹具相对所述下夹具设置,所述下夹具用以装夹电路板,所述上固定台和所述下固定台之间装夹所述测试模组,所述测试模组设有测试探头,所述测试探头接触所述电路板上的微电阻,所述电荷耦合监测电路板的位置信息,所述驱动机构驱动所述下固定台滑动,所述控制机构控制所述驱动机构运行,并控制所述测试模组测试电路板的微电阻。
申请公布号 CN205120829U 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201520840380.X 申请日期 2015.10.27
申请人 深圳市奥高德科技有限公司 发明人 陈哲
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 郝传鑫;熊永强
主权项 一种微电阻测试装置,用于测试电路板的微电阻,其特征在于,所述微电阻装置包括测试机构、驱动机构和控制机构,所述测试机构包括基座、工作台、测试治具、测试模组和电荷耦合图像传感仪,所述工作台包括安装于所述基座上的下固定台和相对所述下固定台滑动设置的上固定台,所述测试治具包括固定于所述下固定台上的下夹具和固定于所述上固定台上的上夹具,所述上夹具相对所述下夹具设置,所述下夹具用以装夹电路板,所述上固定台和所述下固定台之间装夹所述测试模组,所述测试模组设有测试探头和连接于所述测试探头的测试电路,所述测试探头用以在所述上夹具与所述下夹具靠拢时接触所述电路板上的微电阻,所述电荷耦合图像传感仪固定于所述上夹具和所述下夹具之间,用于监测电路板的位置信息,所述驱动机构驱动所述下固定台滑动,所述控制机构电连接所述驱动机构和所述测试模组,以控制所述驱动机构运行,并控制所述测试模组测试电路板的微电阻。
地址 518000 广东省深圳市宝安区福永街道重庆路176号骏丰科技创新园B5-1栋A座7楼
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