发明名称 |
芯片的USB功能的测试方法、测试主机和测试系统 |
摘要 |
本发明提供一种芯片的USB功能的测试方法、测试主机和测试系统,测试方法包括:步骤一,通过测试主机上的GPIO引脚获取测试开始信号以及被测芯片所连接的所述测试主机上的USB测试端口的端口号,并启动测试主机上的测试功能模块;步骤二,测试主机打开与所述端口号对应的继电器,从而接通所述USB测试端口;步骤三,测试功能模块通过USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态;步骤四,获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息;步骤五,测试功能模块根据所述电流信息生成测试结果。本发明使待测芯片不再需要具有USB phy自建测试模块,能减少芯片设计者的工作和负担,并能更好更准确的测试芯片的USB功能。 |
申请公布号 |
CN102401879B |
申请公布日期 |
2016.03.30 |
申请号 |
CN201010288229.1 |
申请日期 |
2010.09.19 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
艾国;朱立英 |
分类号 |
G01R31/3183(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3183(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
郭海彬 |
主权项 |
一种芯片的USB功能的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,通过测试主机上的GPIO引脚获取测试开始信号以及被测芯片所连接的所述测试主机上的USB测试端口的端口号,并启动所述测试主机上的测试功能模块;步骤二,所述测试主机打开与所述端口号对应的继电器,从而接通所述USB测试端口;步骤三,所述测试功能模块通过所述USB测试端口使所述被测芯片进入中断状态;步骤四,获取在中断状态下所述被测芯片的USB端口的电流信息;步骤五,所述测试功能模块根据所述电流信息生成测试结果。 |
地址 |
100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |