发明名称 | 一种测量单个纳米粒子光谱的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种测量单个纳米粒子光谱的方法。以光学显微镜为成像平台,以成像检测器为记录仪,以纳米粒子为检测对象,以光栅为识别手段,以滤光片为光谱校准、转换方式,高通量地测量单个纳米粒子的光谱。具体是:将纳米粒子置于载玻片上,将载玻片置于物镜前;在检测器前放置光栅进行光谱成像,记录单个纳米粒子的零级和一级光谱;在检测器前放置滤光片,以滤光片“切割”纳米粒子的一级光谱,则“切割”后的纳米粒子一级光谱的截止处波长与滤光片的截止波长相同,据此将纳米粒子的一级光谱表示方式从非波长单位转换成波长单位。降低了仪器复杂程度;仅凭一级条纹即能获得单个纳米粒子的光谱,提高了光谱采集通量,减少了操作时间。 | ||
申请公布号 | CN103698279B | 申请公布日期 | 2016.03.30 |
申请号 | CN201310585468.7 | 申请日期 | 2013.11.19 |
申请人 | 江苏师范大学 | 发明人 | 盖宏伟;李艳;刘晓君;张清泉;赵文峰 |
分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
代理机构 | 徐州市三联专利事务所 32220 | 代理人 | 周爱芳 |
主权项 | 一种测量单个纳米粒子光谱的方法,以光学显微镜为成像平台,以成像检测器为记录仪,以纳米粒子为检测对象,以光栅为识别手段,其特征在于:用滤光片进行光谱校准、转换,高通量地测量单个纳米粒子的光谱;具体步骤如下:(1)将纳米粒子置于载玻片上,将载玻片置于物镜前;(2)在检测器前放置光栅进行光谱成像,记录单个纳米粒子的零级和一级光谱;(3)在检测器前放置滤光片,以滤光片“切割”纳米粒子的一级光谱,记录“切割”后的纳米粒子一级光谱;(4)波长校准与转换:经滤光片“切割”的一级光谱其截止处波长与滤光片的截止处波长相同,据此将纳米粒子的一级光谱表示方式从非波长单位转换成波长单位。 | ||
地址 | 221116 江苏省徐州市铜山新区上海路101号 |