发明名称 |
一种晶圆级芯片封装体的制作方法 |
摘要 |
一种晶圆级芯片封装体的制作方法属于半导体芯片封装领域。流程如下:A)提供一晶圆,功能面为正面。正面具有第一钝化层、若干焊盘,焊盘上形成有凸点下金属层;B)晶圆正面切割道位置处形成切割道第一开口C)第一开口内沉积一层第二钝化层;D)第二钝化层上涂覆第一光阻层,并在与焊盘区域对应处形成第一光阻层、第二开口;E)以第一光阻层为掩膜,暴露凸点下金属层;F)第二开口内凸点下金属层上沉积焊料层,G)去除第一光阻层;H)形成微凸点;I)晶圆背面减薄至芯片最终厚度,将晶圆分立为单颗芯片。本发明可避免薄晶圆机械切割时发生裂片,同时只需在芯片之间留出较窄的切割道,提高了晶圆的有效利用率,并阻绝外界环境的侵蚀。 |
申请公布号 |
CN105448829A |
申请公布日期 |
2016.03.30 |
申请号 |
CN201610003276.4 |
申请日期 |
2016.01.02 |
申请人 |
北京工业大学 |
发明人 |
秦飞;别晓锐;史戈;安彤;肖智轶 |
分类号 |
H01L21/78(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
代理人 |
刘萍 |
主权项 |
一种晶圆级芯片封装体的制作方法,其特征在于,其工艺流程如下:A)提供一晶圆(100),所述晶圆功能面为正面,与其相反的一面为反面;正面具有第一钝化层(100b)、若干焊盘(100a),所述焊盘上形成有凸点下金属层(100c);B)于所述晶圆(100)正面切割道位置处形成切割道第一开口(110);C)于所述晶圆(100)正面及切割道第一开口(110)内沉积一层第二钝化层(101);D)于第二钝化层(101)上涂覆第一光阻层(102),并通过曝光、显影在与焊盘区域对应处形成第一光阻层第二开口(120)以暴露底部的第二钝化层(101);E)以第一光阻层(102)为掩膜,暴露凸点下金属层(100c);F)于第一光阻层第二开口(120)内凸点下金属层(100c)上沉积焊料层(103);G)去除第一光阻层(102);H)将所述焊料层(103)进行回流形成微凸点(104);I)于所述晶圆(100)背面进行研磨减薄至芯片最终厚度,将晶圆分立为单颗芯片。 |
地址 |
100124 北京市朝阳区平乐园100号 |