发明名称 |
X射线CT装置以及校正处理装置 |
摘要 |
为了提供从输出信号值(测量数据)中降低系统噪声的技术,X射线CT装置具有:对被检体照射X射线的X射线产生部;检测透过被检体的X射线的X射线检测器;对所述X射线检测器的输出信号进行校正的校正处理部;和根据所述校正处理部的输出来重构图像的重构运算部,所述X射线检测器包含被排列的检测元件,所述校正处理部一边维持以所述检测元件之中关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的平均值,一边缩减以所述关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的方差。 |
申请公布号 |
CN105451658A |
申请公布日期 |
2016.03.30 |
申请号 |
CN201480041695.6 |
申请日期 |
2014.08.06 |
申请人 |
株式会社日立医疗器械 |
发明人 |
高桥悠;后藤大雅;广川浩一 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I;G06T5/20(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
樊建中 |
主权项 |
一种X射线CT装置,其特征在于,具有:X射线产生部,其向被检体照射X射线;X射线检测器,其检测透过被检体的X射线;校正处理部,其对所述X射线检测器的输出信号进行校正;和重构运算部,其根据所述校正处理部的输出来重构图像,所述X射线检测器包含被排列的检测元件,所述校正处理部一边维持以所述检测元件之中关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的平均值,一边缩减以所述关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的方差。 |
地址 |
日本东京都千代田区外神田四丁目14番1号 |