| 摘要 |
1. Система обработки образцов для обработки образцов, содержащихся в пробирках (4), причем каждая пробирка (4) имеет полое тело (41), закрытый низ (42) и открытый верх (43) для доступа к образцу, содержащемуся в пробирке (4), причем система включает в себя микропланшет (1), содержащийпо меньшей мере одну отдельную решетчатую вставку (2), имеющую множество ячеек (21), причем каждая ячейка (21) содержит одну или более боковых стенок (22), ограничивающих по сторонам сквозное отверстие (201), причем сквозное отверстие (201) имеет верхнее отверстие (202) и нижнее отверстие (203) и проходит между верхним отверстием (202) и нижним отверстием (203), ирамку (3), к которой прикрепляется по меньшей мере одна решетчатая вставка (2), образуя микропланшет (1), причем рамка (3) ограничивает по сторонам сквозное отверстие (35), имеющее размеры, обеспечивающие доступ сверху и снизу в каждую ячейку (21) прикрепленной по меньшей мере одной решетчатой вставки (2) и позволяющие перемещать такую пробирку (4) в каждую ячейку (21) и из нее через каждое из верхнего отверстия (202) и нижнего отверстия (203) сквозного отверстия (201).2. Система обработки образцов по п. 1, в которой рамка (3), или отдельная решетчатая вставка (2), или обе из них содержат крепежные элементы (23, 31) для прочного прикрепления решетчатой вставки (2) к рамке (3).3. Система обработки образцов по п. 2, в которой крепежные элементы (23, 31) для прочного прикрепления отдельной решетчатой вставки к рамке (3) содержат один или более выступов (31), размещенных на упругом участке внутренней стенки рамки (3), и одно или более углублений (23), размещенных на участке внешней стенки решетчатой вставки (2) таким образом, что один или более выступов (31) входят в зацепление с одним или более углублениями (23), когда решетчатая вставка (2) вставляется в рамку (3) сниз |
