| 摘要 |
La présente invention concerne un procédé de contrôle de la structure interne d'une pièce réfractaire, caractérisé en ce qu'il comporte les étapes suivantes : a) envoyer, au moyen d'une antenne émettrice, au moins une onde électromagnétique, dite « impulsion », dans la pièce réfractaire à contrôler ; b) recevoir, au moyen d'une antenne réceptrice, ladite impulsion après qu'elle a été réfléchie par une zone réfléchissante de la pièce réfractaire ; c) analyser le décalage temporel entre les deux étapes précédentes afin d'en déduire la position, dans la pièce réfractaire, de la zone réfléchissante, ladite impulsion ayant une durée inférieure ou égale à 0,5 nanoseconde. |
