| 发明名称 |
電子素子の過熱保護装置を検査する配置およびその検査方法 |
| 摘要 |
本発明は、電子素子（６）を過熱から保護する装置を検査する配置および検査方法に関する。装置（１）は、電子素子（６）と熱的に接続している温度センサ（２）および電子素子（６）のための第１制御回路（４）を備える。温度センサ（２）は電気的に第１制御回路（４）と接続されている。配置は、温度センサ（２）と熱的に接続する加熱素子（３）を備え、この加熱素子（３）は第２制御回路（７）により制御可能である。【選択図】図２ |
| 申请公布号 |
JP2016509243(A) |
申请公布日期 |
2016.03.24 |
| 申请号 |
JP20150561994 |
申请日期 |
2014.02.12 |
| 申请人 |
ツェットエフ、フリードリッヒスハーフェン、アクチエンゲゼルシャフトＺＦ ＦＲＩＥＤＲＩＣＨＳＨＡＦＥＮ ＡＧ |
发明人 |
トーマス ルーバー |
| 分类号 |
G01K19/00 |
主分类号 |
G01K19/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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