发明名称 Verfahren zum elektrolytischen Abscheiden von Gold auf einer Kupfer-Keimschicht, um eine Goldmetallisierungsstruktur auszubilden
摘要 Eine elektrisch leitfähige Barriereschicht wird auf einem Halbleitersubstrat derart ausgebildet, dass die Barriereschicht einen ersten Bauelementanschluss abdeckt. Eine Keimschicht wird auf der Barriereschicht ausgebildet. Die Keimschicht aufweist ein von Gold verschiedenes Edelmetall. Das Substrat wird derart maskiert, dass eine erste Maskenöffnung seitlich auf den ersten Anschluss ausgerichtet wird. Ein unmaskierter Abschnitt der Keimschicht wird unter Verwendung einer Goldelektrolytlösung derart elektroplattiert, dass eine erste Goldmetallisierungsstruktur in der ersten Maskenöffnung ausgebildet wird. Die Maske, die maskierten Abschnitte der Keimschicht und der Barriereschicht werden entfernt. Das Edelmetall aus dem unmaskierten Abschnitt der Keimschicht wird in die erste Goldmetallisierungsstruktur eindiffundiert. Die erste Goldmetallisierungsstruktur wird über die Barriereschicht mit dem ersten Anschluss elektrisch verbunden.
申请公布号 DE102015115809(A1) 申请公布日期 2016.03.24
申请号 DE201510115809 申请日期 2015.09.18
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 ZECHMANN, ARNO
分类号 H01L21/768;H01L23/522 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人
主权项
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