发明名称 Verfahren und Einrichtung zur rastermikroskopischen Abbildung eines Objektes
摘要 Verfahren zur rastermikroskopischen Abbildung eines Objektes (28), mit folgenden Schritten: Abtasten einer Vielzahl von Objektpunkten mittels eines Abtaststrahls (14) in aufeinander folgenden Abtastzeitintervallen, mehrmaliges Erfassen der Intensität der von dem jeweils abgetasteten Objektpunkt abgegebenen Strahlung innerhalb des zugehörigen Abtastzeitintervalls, Bestimmen eines Intensitätsmittelwertes aus den in dem jeweils abgetasteten Objektpunkt erfassten Intensitäten als Mittelwert-Bildpunktsignal, und Zusammensetzen der Mittelwert-Bildpunktsignale zu einem Mittelwert-Rasterbildsignal, dadurch gekennzeichnet, dass aus den in dem jeweils abgetasteten Objektpunkt erfassten Intensitäten zusätzlich ein Intensitätsvarianzwert als Varianz-Bildpunktsignal bestimmt wird, und die Varianz-Bildpunktsignale zu einem Varianz-Rasterbildsignal zusammengesetzt werden.
申请公布号 DE102011000090(B4) 申请公布日期 2016.03.24
申请号 DE20111000090 申请日期 2011.01.11
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 BIRK, HOLGER, DR.;WIDZGOWSKI, BERND;NISSLE, HOLGER
分类号 G02B21/00;G01B11/24 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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