发明名称 用于智能电能表软件可靠性检测的计量芯片模拟测试方法
摘要 本发明提供一种用于智能电能表软件可靠性检测的计量芯片模拟测试方法,包括:上位机软件启动测试系统自检;加载被测表信息和测试用例;若加载成功上位机向ARM发送信号,FPGA芯片开始数据监听;MCU核心板将读写计量芯片的时序信号传递给FPGA芯片;FPGA芯片读取FPGA寄存器的计量参数,返回给MCU核心板;将MCU核心板与FPGA芯片的通信时序传送至ARM;ARM将得到的时序通过交换机传送至上位机软件;上位机软件将接收到的时序与原始库对比;若对比正确则记录检测结果,否则记录错误信息;测试用例条目结束则整理检测结果,编制检测报告;否则执行下一跳检测条目。本发明避免人工检测的造成测量结果偏差和检测结果不一致,保证检测工作的公平公正,数据可靠,计量准确。
申请公布号 CN105425201A 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201510921229.3 申请日期 2015.12.11
申请人 中国电力科学研究院;国家电网公司 发明人 孙志强;刘鹰;翟峰;杜蜀薇;杜新纲;葛得辉;赵兵;孔令达;吕英杰;李保丰;付义伦;彭楚宁;周晖;岑炜;冯占成;梁晓兵;曹永峰;任博;袁泉;张庚;卢艳;徐文静;许斌
分类号 G01R35/04(2006.01)I 主分类号 G01R35/04(2006.01)I
代理机构 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人 徐国文
主权项 一种用于智能电能表软件可靠性检测的计量芯片模拟测试方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(1)上位机软件启动测试系统自检;(2)加载被测表信息和测试用例;(3)若加载成功进入步骤(4),否则操作员核验信息重新加载直至成功;(4)上位机向ARM发送信号,FPGA芯片开始数据监听;(5)上位机向MCU核心板发布上电指令,MCU核心板开始工作;(6)MCU核心板将读写计量芯片的时序信号传递给FPGA芯片;(7)FPGA芯片经过逻辑映射,将读写信号传递给FPGA寄存器,读取其中的计量参数,返回给MCU核心板;(8)将MCU核心板与FPGA芯片的通信时序传送至ARM;(9)ARM将得到的时序通过交换机传送至上位机软件;(10)上位机软件将接收到的时序与原始库对比;(11)若对比正确则记录检测结果,否则记录错误信息;(12)测试用例条目结束则整理检测结果,编制检测报告;否则执行下一跳检测条目。
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