发明名称 矩阵自动阻抗测试仪及测试方法
摘要 本发明属于电学测试领域,涉及一种产品电子学阻抗特性的自动测试装置及方法。本发明提供的矩阵自动阻抗测试仪,包括测试盒、数字欧姆表,其特征在于:所述测试盒内设置有n个测试接点,每个测试接点均与数字欧姆表的正端和负端连接为测试通路;测试通路上设置有程控开关;测试仪还包括主控计算机;主控计算机内部安装有两块用于控制数字欧姆表的正负输入端口的数字接口卡;数字接口卡的输出端与所述程控开关的驱动端相连。测试人员不用像以往那样人工走查,手动记录测试数据,而只需要输入测试网表,连接被测设备,就可以把后续的测量活动交给程序自动完成,大幅提高了测试效率,测试安全性和测试准确性。
申请公布号 CN105425044A 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201510870872.8 申请日期 2015.12.01
申请人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明人 昌明;赵建科;曹昆;薛勋;周艳;聂申
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 倪金荣
主权项 一种矩阵自动阻抗测试仪,包括测试盒、数字欧姆表,其特征在于:所述测试盒内设置有n个测试接点,每个测试接点均与数字欧姆表的正端和负端连接为测试通路;测试通路上设置有程控开关;所述测试仪还包括主控计算机;主控计算机内部安装有两块用于控制数字欧姆表的正负输入端口的数字接口卡;数字接口卡的输出端与所述程控开关的驱动端相连。
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