发明名称 |
液晶面板影像残留检测方法和装置 |
摘要 |
本发明提供了一种液晶面板影像残留检测方法和装置,包括使液晶面板显示标准棋盘格画面一时间值后,改变画面为一指定灰阶并获取影像残留图像;分别对所述标准棋盘格画面的数字图像和所述影像残留图像进行傅里叶变换得到第一能量频谱和第二能量频谱;将所述第一能量频谱和所述第二能量频谱分别转化到极坐标内成为关于极角和频率的函数,并分别关于所述极角在每个所述频率下做0到2π求和,得到棋盘格能量频谱和残影能量频谱;求得所述棋盘格能量频谱的所有能量值的最大值对应的特征频率;求得所述残影能量频谱的频率分别为所述特征频率和零频时对应的第一能量值和第二能量值;用所述第一能量值除以所述第二能量值得到残影评价值。 |
申请公布号 |
CN105427776A |
申请公布日期 |
2016.03.23 |
申请号 |
CN201610050655.9 |
申请日期 |
2016.01.26 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
王艳雪;陈黎暄 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州三环专利代理有限公司 44202 |
代理人 |
郝传鑫;熊永强 |
主权项 |
一种液晶面板影像残留检测方法,其特征在于,包括:使液晶面板显示标准棋盘格画面一时间值后,改变画面为一指定灰阶并获取影像残留图像;对所述标准棋盘格画面的数字图像计算得到棋盘格能量频谱,对所述影像残留图像计算得到残影能量频谱;求得所述棋盘格能量频谱的所有能量值中的最大值对应的特征频率;求得所述残影能量频谱的频率值分别为所述特征频率和零频时对应的第一能量值和第二能量值;用所述第一能量值除以所述第二能量值得到残影评价值。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |