发明名称 自校准光轴平行性检测仪及检测方法
摘要 自校准光轴平行性检测仪及检测方法属于光学仪器检验技术领域,本发明采用的标校反射镜是一块长方形平尺反射镜,代替现有较短的反射镜或椎体棱镜,可同时覆盖半反半透平面镜和平面折转反射镜出射的光束,从而使得两路光束以同一基准进行校准,达到高精度的目的。本发明所研制的光轴平行度检验仪,光束间距可在200mm至900mm范围内连续可调,光束的平行性可实时调整,平行性精度取决于自准直仪的测量精度,而自准直仪的测量精度可溯源到国家计量院,该仪器实现了便携、多功能及高精度的使用要求。
申请公布号 CN105424322A 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201510755167.3 申请日期 2015.11.09
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 叶露
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 李青
主权项 自校准光轴平行性检测仪,其特征在于,该检测仪包括:主支撑导轨、平尺反射镜、移动导轨、平面折转反射镜、半反半透平面镜和自准直仪;所述半反半透平面镜和平面折转反射镜安装在主支撑导轨上表面,可在主支撑导轨上任意滑动,与主支撑导轨的主轴成45度角;所述移动导轨固定安装在主支撑导轨的一侧表面,平尺反射镜通过移动导轨在主支撑导轨侧表面任意滑动;自准直仪安装在主支撑导轨的另一侧表面,自校准时对准半反半透平面镜。
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号