相位序列产生方法及装置

摘要

本发明公开一种相位序列产生方法及装置，主要为了解决现有技术产生相位序列计算复杂、占据空间存储单元多而设计。本发明提供了一种相位序列产生方法，包括：存储基相位序列k＝0,…,L；p＝0,…,P-1，其中p表示基相位序列的索引值。比较相位序列的根C与的大小。当时，设置共轭标志位Flag_conj＝1，并令等效根C⁰＝N-C；否则，令Flag_conj＝0，C⁰＝C。构造多个备选根C^w，令C^w＝C⁰+2^w-1，其中w＝1,…,P-3。将C^w(w＝0,…,P-3)转化为P位的二进制数，选择二进制数“1”个数最少的作为参数bin，同时令Flag_bin＝w，将bin中bit为“1”对应的基序列φ_p进行累乘，即m表示bin的第m位为1。如果Flag_bin≠0，如果Flag_conj＝1，对取共轭。由于，这里λ为常数λ＝exp(j2πCL/N),所求相位序列表示为

主权项

一种相位序列产生方法，其特征在于：包括设置基序列长度为L<N；相位序列的一般表达式为：0≤k≤N‑1，其中N为序列长度，N∈Ν⁺；C称为序列的根；比较相位序列的根C与的大小，若时，则等效根C⁰＝N‑C，设置共轭标志位Flag_conj＝1为取共轭；若则C⁰＝C，设置共轭标志位Flag_conj＝0为不取共轭；构造多个备选根C^w，C^w＝C⁰+2^w‑1w＝1,…,P‑3，将等效根和备选根分别转化为P位的二进制数，分别记为选择二进制数“1”个数最少的作为参数bin，即同时令Flag_bin＝w，w＝0,…,P‑3；二进制数bin的比特长度为P，其每一个bit位与一个基序列φ_p相对应，对应方式为bin的最低位对应φ₀，最高位对应φ_P‑1，将bin中bit为“1”对应的基序列φ_p进行累乘，表达式为：其中m表示bin的第m位为1，如果Flag_bin≠0，如果共轭标志位Flag_conj＝1，则对取共轭如果共轭标志位Flag_conj＝0，则保持不变；得到相位序列表示为其中λ为常数