发明名称 使用存储器控制器的鲁棒存储器链路测试
摘要 介绍了用于存储器链路的REUT(鲁棒的统一电测试),其加速了测试、工具开发和调试。此外,它提供了具有足够性能的、由BIOS用来训练参数的训练钩子和在过去的实现中不可能提供的条件。还公开了地址模式生成电路。
申请公布号 CN102483957B 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201080026563.8 申请日期 2010.12.10
申请人 英特尔公司 发明人 B·L·斯普赖;T·Z·舍恩博恩;P·亚伯拉罕;C·P·莫扎克;D·G·艾利斯;J·J·内耶德洛;B·奎尔巴赫;Z·格林菲尔德;R·加塔;J·托利伊尔;C·D·卢卡斯;C·E·容克尔
分类号 G11C29/10(2006.01)I 主分类号 G11C29/10(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 刘瑜;王英
主权项 一种对存储器链路执行测试的方法,包括:经由地址生成硬件以DDR接口所允许的最大速率生成存储器读请求和写请求;使用模式缓冲器和线性反馈移位寄存器的组合生成已知数据模式;向存储器发布具有已知数据模式的写操作;读取所述存储器以获取读回数据;针对每个比特检验具有所述已知数据模式的所述读回数据,以确定是否出现了任何错误;将每个比特的错误信息存储在寄存器中;以及对所述每个比特的错误信息进行或运算,以产生全局错误指示,其中,所述已知数据模式是通过基于来自所述线性反馈移位寄存器的比特来选择来自所述模式缓冲器的比特的一部分而生成的,并且其中,所述测试包括鲁棒的统一电测试,并且能够执行Bios训练、Dimm边际界定、电验证测试时间、存储器控制器测试和调试、HVM测试和筛查能力以及电链路验证。
地址 美国加利福尼亚