发明名称 |
穿硅通孔与其形成方法 |
摘要 |
本发明公开了一种穿硅通孔的结构,其包含一导电电极、一绝缘层以及一掺杂区。其中,导电电极设置于一基底中,导电电极会贯穿基底的一第一表面以及一第二表面。绝缘层设置于基底中,并包围所述导电电极。掺杂区设置于基底中,并包围所述绝缘层。本发明的穿硅通孔由于具有掺杂区包围在导电电极以及绝缘层中,故可以解决现有技术中漏电流以及杂讯过高的缺陷。本发明另外还提供了一种穿硅通孔的形成方法。 |
申请公布号 |
CN103367307B |
申请公布日期 |
2016.03.23 |
申请号 |
CN201210084616.2 |
申请日期 |
2012.03.27 |
申请人 |
南亚科技股份有限公司 |
发明人 |
陈逸男;徐文吉;叶绍文;刘献文 |
分类号 |
H01L23/522(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/522(2006.01)I |
代理机构 |
深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 |
代理人 |
江耀纯 |
主权项 |
一种穿硅通孔,其特征在于,包括:导电电极设置于基底中,其中所述导电电极贯穿所述基底的第一表面以及第二表面;绝缘层设置于所述基底中,并包围所述导电电极;以及掺杂区设置于所述基底中,并包围所述绝缘层,另外所述基底的所述第二表面上完全覆盖有所述掺杂区。 |
地址 |
中国台湾桃园县 |