发明名称 穿硅通孔与其形成方法
摘要 本发明公开了一种穿硅通孔的结构,其包含一导电电极、一绝缘层以及一掺杂区。其中,导电电极设置于一基底中,导电电极会贯穿基底的一第一表面以及一第二表面。绝缘层设置于基底中,并包围所述导电电极。掺杂区设置于基底中,并包围所述绝缘层。本发明的穿硅通孔由于具有掺杂区包围在导电电极以及绝缘层中,故可以解决现有技术中漏电流以及杂讯过高的缺陷。本发明另外还提供了一种穿硅通孔的形成方法。
申请公布号 CN103367307B 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201210084616.2 申请日期 2012.03.27
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 陈逸男;徐文吉;叶绍文;刘献文
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人 江耀纯
主权项 一种穿硅通孔,其特征在于,包括:导电电极设置于基底中,其中所述导电电极贯穿所述基底的第一表面以及第二表面;绝缘层设置于所述基底中,并包围所述导电电极;以及掺杂区设置于所述基底中,并包围所述绝缘层,另外所述基底的所述第二表面上完全覆盖有所述掺杂区。
地址 中国台湾桃园县