发明名称 |
一种LED封装胶的性能测试方法 |
摘要 |
本发明涉一种LED封装胶的性能测试方法,包括以下步骤:(1)点胶、固化形成LED封装胶胶片,制备出待测试的LED封装胶胶片;(2)对封装胶片进行高温和低温处理;(3)用光谱测试仪器测试放置有LED封装胶胶片时光源的光谱;(4)将测试后的LED封装胶片放入离心装置中进行离心运动,并用光谱测试仪器测试光源的光谱;(5)移除导光筒上端口的LED封装胶胶片后,再次用光谱测试仪器测试光源的光谱,换算出该LED封装胶胶片各个波长的透光率;(6)将换算出的透光率与标准透光率进行比较,若在正常范围内,则合格,否则不合格。本发明测试方法简单,无需采用价格高昂的专业设备来进行,也大大节约了测试的成本。 |
申请公布号 |
CN105424614A |
申请公布日期 |
2016.03.23 |
申请号 |
CN201510969139.1 |
申请日期 |
2015.12.20 |
申请人 |
合肥艾斯克光电科技有限责任公司 |
发明人 |
陆启蒙;高伟 |
分类号 |
G01N21/25(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/25(2006.01)I |
代理机构 |
合肥天明专利事务所 34115 |
代理人 |
金凯 |
主权项 |
一种LED封装胶的性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)点胶、固化形成LED封装胶胶片,制备出待测试的LED封装胶胶片;(2)将LED封装胶片放入烤箱进行烘烤,该烤箱的温度设置在150℃,烘烤10分钟后取出,放入低温环境中进行冷15分钟,该低温环境的温度为‑20℃;(3)将经过低温环境后的封装胶片放入导光筒上,该导光筒的底部通过光源对封装胶片进行照射,用光谱测试仪器测试放置有LED封装胶胶片时光源的光谱;(4)将测试后的LED封装胶片放入离心装置中进行离心运动,将进行离心运动后的LED封装胶片放入导光筒上,该导光筒的底部通过光源对封装胶片进行照射,用光谱测试仪器测试放置有LED封装胶胶片时光源的光谱;(5)移除导光筒上端口的LED封装胶胶片后,再次用光谱测试仪器测试光源的光谱,通过前后3次光源的光谱变化,从而换算出该LED封装胶胶片各个波长的透光率;(6)将换算出的透光率与标准透光率进行比较,若在正常范围内,则所测试的LED封装胶胶片合格,否则不合格。 |
地址 |
230088 安徽省合肥市高新区科学大道79号科园创业中心1号楼207室 |