发明名称 一种图形传感器及其制造方法
摘要 本发明属于半导体集成电路制造工艺技术领域,公开了一种图形传感器及其制造方法,其包括半导体衬底、层间介质层、接触电极、钙钛矿光电薄膜、钝化层以及三基色滤光膜。本发明通过钙钛矿光电薄膜的引入,使光电转换单元与其它功能单元分离,将传统CMOS图像传感器的二维平面结构优化成三维的叠层结构。本发明提出的基于钙钛矿光电薄膜的图形传感器可具有100%的填充系数,同时大大减小了芯片尺寸,此外,芯片在制作过程中不需要再兼顾硅光电二极管极低噪声的工艺要求,可降低工艺要求并显著降低成本。
申请公布号 CN105428384A 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201510999415.9 申请日期 2015.12.28
申请人 上海集成电路研发中心有限公司 发明人 耿阳;胡少坚;陈寿面
分类号 H01L27/146(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人 吴世华;尹英
主权项 一种图形传感器,其特征在于,所述图形传感器包括:半导体衬底,所述半导体衬底上具有悬浮电容和晶体管;层间介质层,所述层间介质层设于所述半导体衬底的上表面,且所述层间介质层内具有多层互连线和填充有金属的通孔;接触电极,在水平方向上呈阵列式分布在所述层间介质层上,且相邻的接触电极之间具有预设宽度的间隔;钙钛矿光电薄膜,覆盖在所述接触电极上,以形成图像传感器的光敏区;钝化层,覆盖在所述钙钛矿光电薄膜上,以隔绝空气和水;三基色滤光膜,设置于所述钝化层的上表面。
地址 201210 上海市浦东新区上海浦东张江高斯路497号