发明名称 一种BMN薄膜的制备方法
摘要 本发明公开了一种BMN薄膜的制备方法,包括将预处理的衬底固定在基板支架上,打开分子泵对溅射腔室进行抽真空;到达本底真空度后,向溅射腔室内通入氩气,加高压对基片进行清洗;关闭高压,打开基片旋转电机,调节基片转速为30rpm;当衬底温度达到温度后,先关闭靶材档板,调节射频功率;通入高纯氧气,调节流量计,设定Ar/O<sub>2</sub>体积比,并使腔室气压达到溅射气压4.0Pa;调节基片电压为80-150V,打开档板,开始镀膜;经过700℃氧气氛下退火30min得到晶化薄膜。本发明BMN薄膜择优取向趋势强,表面粗糙度为3.53nm;薄膜的介电常数最大,介电损耗最低。
申请公布号 CN105420672A 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201510834266.0 申请日期 2015.11.25
申请人 盐城工学院 发明人 高虹
分类号 C23C14/08(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I 主分类号 C23C14/08(2006.01)I
代理机构 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人 姜彦
主权项 一种BMN薄膜的制备方法,其特征在于,该BMN薄膜的制备方法包括:在阴极靶位置上安装BMN陶瓷靶材,将预处理的衬底固定在基板支架上,打开分子泵对溅射腔室进行抽真空;到达本底真空度后,向溅射腔室内通入高纯的氩气,调节流量计使气压,加高压对基片再次进行清洗;关闭高压,打开基片旋转电机,调节基片转速为30rpm;衬底温度升高,关闭靶材档板,调节射频功率,预溅射3‑5min;通入高纯氧气,调节流量计,设定Ar/O<sub>2</sub>体积比,并使腔室气压达到实验的溅射气压4.0Pa;调节基片电压为80‑150V,打开档板,开始镀膜;经过700℃氧气氛下退火30min得到晶化薄膜。
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