测试装置

摘要

本发明提供一种测试装置，用于对被测试器件进行测试，其可以防止过剩电流流入到被测试器件中。所述测试装置具有：用于产生向所述被测试器件供给电源电压的电源部；设置在从所述电源部至所述被测试器件的路径中的感应负载部；相对于所述感应负载部而言与所述被测试器件并联连接的第一半导体开关；以及在切断对所述被测试器件供给的电源电压的情况下，导通所述第一半导体开关的控制部。

主权项

一种测试装置，其用于对被测试器件进行测试，具有：用于产生向所述被测试器件供给电源电压的电源部；设置在从所述电源部至所述被测试器件的路径中的感应负载部；相对于感应负载部而与所述被测试器件并联连接的第一半导体开关；在切断对所述被测试器件供给的电源电压的情况下，导通所述第一半导体开关的控制部；以及设置于所述电源部与所述感应负载部之间的第二半导体开关；在切断对所述被测试器件供给的电源电压的情况下，所述控制部断开所述第二半导体开关后，导通所述第一半导体开关。