发明名称 环境测量系统、设备管理系统
摘要 本发明提供一种环境测量系统、设备管理系统。一种环境测量系统,对测量对象空间的环境状态进行测量,具有:固定传感器终端,固定地设置在所述测量对象空间中;移动传感器终端,在所述测量对象空间内移动;以及测位单元,对所述移动传感器终端的位置进行测量,所述固定传感器终端对本终端的设置场所周边的环境状态进行测量,所述固定传感器终端和所述移动传感器终端通过无线通信,发送或者接收用于对所述移动传感器终端的位置进行测位的信号,所述测位单元使用该信号对所述移动传感器终端的位置进行测位,所述移动传感器终端使用该测位的结果掌握所述测量对象空间内的本终端的位置,并且对本终端的周边的环境状态进行测量。
申请公布号 CN103281776B 申请公布日期 2016.03.23
申请号 CN201310090729.8 申请日期 2009.03.13
申请人 三菱电机株式会社 发明人 樋原直之;小泉吉秋;中田成宪;久代纪之
分类号 H04W64/00(2009.01)I;G01S5/02(2010.01)I;G01S5/14(2006.01)I 主分类号 H04W64/00(2009.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 崔成哲
主权项 一种环境测量系统,对测量对象空间的环境状态进行测量,其特征在于,具有:固定传感器终端,固定地设置在所述测量对象空间中;移动传感器终端,在所述测量对象空间内移动;以及测位单元,对所述移动传感器终端的位置进行测量,所述固定传感器终端对本终端的设置场所周边的环境状态进行测量,所述固定传感器终端和所述移动传感器终端通过无线通信,发送或者接收用于对所述移动传感器终端的位置进行测位的信号,所述测位单元使用该信号对所述移动传感器终端的位置进行测位,所述移动传感器终端使用该测位的结果掌握所述测量对象空间内的本终端的位置,并且对本终端的周边的环境状态进行测量,所述移动传感器终端将在所述测量对象空间内应测量环境状态的测量点的列表进行保持,从所述列表选择接下来应测量环境状态的测量点,根据该测量点和基于所述测位单元的测位的结果的本终端的当前位置,决定本终端的移动量而移动到该测量点,对该测量点的环境状态进行测量。
地址 日本东京
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