用于亚纳秒量级前沿脉冲电子束测量的法拉第探测器

摘要

本发明涉及一种脉冲电子束测量装置，具体涉及一种适用于亚纳秒量级前沿脉冲电子束测量的法拉第探测器，包括接地外壳、准直器、采样电阻、金属支架和电荷收集体；接地外壳为两端开口的圆筒形结构，一端连接电子束源，另一端安装准直器；准直器安装于接地外壳一端的内壁处，准直器一端设置真空电缆座，准直器的另一端连接采样电阻一端；采样电阻的另一端连接金属支架；金属支架中心嵌套有垂直于电子束入射方向的电荷收集体。本发明提供的法拉第探测器整体结构紧凑、电阻分布均匀、回路电感低、噪声小，满足亚纳秒量级前沿脉冲电子束的测量，拓宽了法拉第探测器的测量范围。

主权项

一种用于亚纳秒量级前沿脉冲电子束测量的法拉第探测器，其特征在于：所述探测器包括接地外壳、准直器、采样电阻、金属支架和电荷收集体；所述接地外壳为两端开口的圆筒形结构，一端连接电子束源，另一端安装准直器；所述准直器安装于接地外壳一端的内壁处，准直器一端设置真空电缆座，准直器的另一端连接采样电阻一端；采样电阻的另一端连接金属支架；所述金属支架中心嵌套有垂直于电子束入射方向的电荷收集体。