发明名称 Specimen for test of light emitting diode and manufacturing method thereof
摘要 본 발명의 실시 형태에 따른 엘이디 측정시료 제조방법은, 리드 프레임에 반사컵을 형성하고, 상기 반사컵 내의 상기 리드 프레임 상에 엘이디 칩을 실장하며, 상기 엘이디 칩과 상기 리드 프레임을 와이어로 연결하는, 선 진행 단계; 상기 리드 프레임의 + 단자와 - 단자 중에서 상기 + 단자를 절단하는, 절단 단계; 수지와 형광체를 혼합하여 상기 리드 프레임과 상기 반사컵에 의해 형성된 충진 공간에 주입하고, 35분 이상 45분 이하의 설정시간 동안 경화시켜 반제품 상태의 엘이디 측정시료를 제조하는, 주입 및 경화단계;를 포함하고, 상기 반제품 상태의 엘이디 측정시료의 전기적 특성값과 광학적 특성값은, 완제품 상태의 엘이디 측정시료의 전기적 특성값과 광학적 특성값의 95 이상 100 미만의 상관관계를 갖는다.
申请公布号 KR101601093(B1) 申请公布日期 2016.03.22
申请号 KR20100048133 申请日期 2010.05.24
申请人 엘지이노텍 주식회사 发明人 김명선;진희열;김경만;옥성문;박성철
分类号 G01N1/28;G01R3/00;G01R31/02 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
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