| 摘要 |
본 발명은 측정 물체 표면(1s) 위의 복수의 측정 지점들의 광학 측정 3D 좌표들을 결정하기 위한 방법에 관한 것이다. 이를 위해, 측정 물체 표면(1s)은 프로젝터(3)에 의해 상이한 패턴들(2a)의 패턴 시퀀스가 조사되고, 패턴 시퀀스로 조사된 측정 물체 표면(1s)의 이미지 시퀀스는 카메라 시스템으로 기록되고, 측정 지점들의 3D 좌표들은 이미지 시퀀스를 평가하여 결정되고, 특히 측정 물체 표면(1s) 위의 동일한 측정 지점들에 대한 일련의 휘도값들이 기록된 이미지 시퀀스의 각각의 이미지들에서 확인된다. 본 발명에 따르면, 프로젝터(3)의, 카메라 시스템의 및/또는 측정 물체(1)의 병진 및/또는 회전 가속도들이 여기서 측정되고, 측정된 가속도들에 의존하여, 측정 물체 표면(1s)의 조사 및/또는 이미지 시퀀스의 기록이 측정 프로세스 중 반응적으로, 특히 일시적으로 실질적으로 직접적으로 라이브로 적응된다. |
