| 发明名称 |
决定晶片上电压与温度的方法与系统 |
| 摘要 |
具体实施例中，一种方法可包含：模型化且校正两种感测器，该等感测器为一半导体装置之部分。另外，该方法可包含：根据从该等两个感测器所接收的资料，决定一温度与电压。
|
| 申请公布号 |
TWI527193 |
申请公布日期 |
2016.03.21 |
| 申请号 |
TW101140486 |
申请日期 |
2012.11.01 |
| 申请人 |
辉达公司 |
发明人 |
辛 艾柏契克;波普 渥奇区 贾各;艾尔金 伊莱斯 |
| 分类号 |
H01L27/04(2006.01);H01L21/66(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/04(2006.01) |
| 代理机构 |
|
代理人 |
李宗德 |
| 主权项 |
一种决定晶片上电压与温度的方法，包括：模型化且校正两种感测器，该等感测器为一半导体装置之部分，且成对地、相当邻近地设置于该半导体装置上一位置；及根据从该等两个感测器所接收的资料，一起决定出该位置上之一温度与电压。
|
| 地址 |
美国 |
