发明名称 Verfahren und Anlage zur Vermessung von Oberflächen
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anlage zum Vermessen von Oberflächen von Objekten, wobei mit Hilfe eines Lichtprojektionsverfahrens die Oberfläche 2 vermessen wird. Mit Hilfe einer Positionsermittlungseinrichtung, die mit Hilfe von optischen Messeinheiten die aktuelle Position einer Lichtprojektionseinheit berührungslos erfasst, können Positionier- und Bahnungenauigkeiten der Roboteranlage beim Vermessen kompensiert werden.
申请公布号 DE102014113395(A1) 申请公布日期 2016.03.17
申请号 DE201410113395 申请日期 2014.09.17
申请人 DEUTSCHES ZENTRUM FÜR LUFT- UND RAUMFAHRT E.V. 发明人 KROMBHOLZ, CHRISTIAN
分类号 G01B11/25;G01B11/24 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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