发明名称 基于专用芯片的接口信号质量的测试方法及系统
摘要 本发明提供一种基于专用芯片的接口信号质量的测试方法及系统,其方法包括:S1、获取所述专用芯片上各物理接口对应的信号眼图模板;S2、逐一选定该专用芯片的物理接口作为被测对象,启动所述专用芯片自身的信号采集功能,以采集该物理接口上对应于不同时间点的多组眼高、眼宽数据,并根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图;S3、将所测物理接口的信号眼图与其对应的信号眼图模板相比较,判断所测物理接口的信号眼图的轨迹处于相应的眼图模板外围,若是,则信号质量符合预定要求;反之则不符合。本发明不需依赖信号分析仪,也无需人工的参与,准确性高,成本低,可满足交换设备的批量生成时的测试需求。
申请公布号 CN103200040B 申请公布日期 2016.03.16
申请号 CN201210441751.8 申请日期 2012.11.08
申请人 盛科网络(苏州)有限公司 发明人 邱建峰;梁芳
分类号 H04L12/26(2006.01)I 主分类号 H04L12/26(2006.01)I
代理机构 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人 杨林洁
主权项 一种基于专用芯片的接口信号质量的测试方法,其特征在于,其包括如下步骤:S1、获取所述专用芯片上各物理接口对应的信号眼图模板;S2、逐一选定该专用芯片的物理接口作为被测对象,启动所述专用芯片自身的信号采集功能,以采集该物理接口上对应于不同时间点的多组眼高、眼宽数据,并根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图;“根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图”的步骤具体包括:启动信号抓取动作,并以启动时间点为中点;获取所述启动时间点的瞬时眼高、瞬时眼宽数据,并以此该中点为参考点,设置多个采集时间点,分别采集各时间点所对应的眼高、眼宽数据;将所采集的数据进行单位换算,计算出与逻辑分析仪参考单位相一致的标准数据,并根据所有时间点的标准数据描绘眼图的轨迹;S3、将所测物理接口的信号眼图与其对应的信号眼图模板相比较,判断所测物理接口的信号眼图的轨迹处于相应的眼图模板外围,若是,则该物理接口的信号质量符合预定要求;若否,则该物理接口的信号质量不符合预定要求。
地址 215021 江苏省苏州市苏州工业园区星汉街5号B幢4楼13/16单元