发明名称 半导体记忆装置及记忆体系统
摘要 形态之半导体记忆装置包括第1、第2记忆胞、字元线、及第1、第2位元线。第1、第2位元线分别电性连接于第1、第2记忆胞之一端。于重试读取时,对字元线施加读出电压,对第1位元线施加第1电压,对第2位元线施加第2电压,第2电压与第1电压不同。
申请公布号 TW201611012 申请公布日期 2016.03.16
申请号 TW104126593 申请日期 2013.10.18
申请人 东芝股份有限公司 发明人 阿部健一;白川政信
分类号 G11C16/24(2006.01);G11C16/08(2006.01) 主分类号 G11C16/24(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项 一种半导体记忆装置,其特征在于包括:第1记忆胞;第2记忆胞,其设于上述第1记忆胞之上方;字元线,其电性连接于上述第1记忆胞及上述第2记忆胞之闸极;第1位元线,其电性连接于上述第1记忆胞之一端;及第2位元线,其电性连接于上述第2记忆胞之一端;且于资料之读出时,对上述字元线施加第1读出电压;于重试读取时,对上述字元线施加第2读出电压,对上述第1位元线施加第1电压,对上述第2位元线施加第2电压;上述第2电压与上述第1电压不同。
地址 日本