发明名称 |
层叠体的检查方法、层叠体检查装置以及层叠体制造装置 |
摘要 |
本发明提供层叠体的检查方法、层叠体检查装置以及层叠体制造装置。当使光从带有加强板的扁型电缆的第一面侧照射于带有加强板的扁型电缆时,在带有加强板的扁型电缆的第二面侧,除正确地制作导体的影像以及加强板的影像的第一光强度外,以正确地制作带有加强板的扁型电缆的窗部的边缘的影像的第二光强度,使光从带有加强板的扁型电缆的第一面侧照射于带有加强板的扁型电缆,从第二面侧拍摄透过图像,解析透过图像并进行边距以及加强板位置的检查。通过第一光强度的光检测导体的位置以及加强板的位置,通过第二光强度的光检测窗部的边缘。通过一组照相机和照明以及一个图像解析装置,进行带有加强板的扁型电缆的导体以及加强板以及边缘位置的检查。 |
申请公布号 |
CN103363896B |
申请公布日期 |
2016.03.16 |
申请号 |
CN201310108098.8 |
申请日期 |
2013.03.29 |
申请人 |
东京特殊电线株式会社 |
发明人 |
木内和昭;小相泽久;皆瀬十三夫;高木俊英 |
分类号 |
G01B11/00(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;G01B11/14(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;H05K3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京戈程知识产权代理有限公司 11314 |
代理人 |
程伟;王锦阳 |
主权项 |
一种层叠体的检查方法,其特征在于,使用具有用于照射第一光强度的光的第一光强度部分(1s)以及用于照射比所述第一光强度弱的第二光强度的光的第二光强度部分(1r)的照明单元,使光从通过将不能使光透过的不透过部件以及不易使光透过的半透过部件以及能够使光透过的透过部件(c5)中的至少一个层叠于能够使光透过的透过基材(c2、c3)而形成的层叠体(C)的第一面侧照射,通过所述第一光强度的光,向所述层叠体(C)的第二面侧制作从所述不透过部件、所述半透过部件以及所述透过部件选择的至少一个的影像,同时,通过所述第二光强度的光,制作所述透过基材(c2、c3)的边缘(cE)的影像,基于从所述不透过部件、所述半透过部件以及所述透过部件选择的至少一个的影像以及所述边缘(cE)的影像,进行所述层叠体(C)的构造的检查。 |
地址 |
日本东京都 |