| 发明名称 | 用于分析物传感器的高级校准 | ||
| 摘要 | 本发明提供用于处理传感器数据和传感器校准的系统和方法。在一些实施例中，用于校准来自分析物传感器的至少一个传感器数据点的方法包含接收先验校准分布信息；接收一个或多个实时输入，其可影响分析物传感器的校准；基于所述一个或多个实时输入形成后验校准分布信息；和基于后验校准分布信息来实时转换至少一个经传感器数据点校准的传感器数据。 | ||
| 申请公布号 | CN105408902A | 申请公布日期 | 2016.03.16 |
| 申请号 | CN201480014870.2 | 申请日期 | 2014.01.27 |
| 申请人 | 德克斯康公司 | 发明人 | S.J.范斯利克;N.C.巴瓦拉朱;L.博内特;A.加西亚;A.U.卡马思;J.普赖尔 |
| 分类号 | G06F19/00(2011.01)I;A61B5/1495(2006.01)I | 主分类号 | G06F19/00(2011.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 马红梅;陈岚 |
| 主权项 | 一种用于校准来自分析物传感器的至少一个传感器数据点的方法，所述方法包含：(a)接收先验校准分布信息；(b)接收一个或多个实时输入，其可影响所述分析物传感器的校准；(c)基于所述一个或多个实时输入形成后验校准分布信息；和(d)基于所述后验校准分布信息将至少一个传感器数据点实时转换成经校准的传感器数据。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||