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经营范围
发明名称
使用电子束装置的即时对准方法
摘要
于互补式电子束微影术(CEBL)之微影装置和关于互补式电子束微影术之方法被描述。在实施例中,一种位于电子束工具的平台上之晶圆的即时对准方法,该方法关于从晶圆的底层图形特征收集反向散射电子,而该电子束工具的电子束行在该平台的扫描期间写入,藉由配置在该电子束行底部的电子检测器执行该收集,该方法也关于基于该收集执行相对于该电子束行之平台的对准校正。
申请公布号
TW201611090
申请公布日期
2016.03.16
申请号
TW104114135
申请日期
2015.05.04
申请人
英特尔股份有限公司
发明人
柏拉多司凯 颜;尼尔森 唐诺德;菲利浦 马克
分类号
H01L21/027(2006.01)
主分类号
H01L21/027(2006.01)
代理机构
代理人
林志刚
主权项
一种位于电子束工具的平台上之晶圆的即时对准方法,该方法包括:从该晶圆的底层图形特征收集反向散射电子,而该电子束工具的电子束行在该平台的扫描期间写入,藉由配置在该电子束行底部的电子检测器执行该收集;以及基于该收集执行相对于该电子束行之该平台的对准校正。
地址
美国
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