发明名称 使用电子束装置的即时对准方法
摘要 于互补式电子束微影术(CEBL)之微影装置和关于互补式电子束微影术之方法被描述。在实施例中,一种位于电子束工具的平台上之晶圆的即时对准方法,该方法关于从晶圆的底层图形特征收集反向散射电子,而该电子束工具的电子束行在该平台的扫描期间写入,藉由配置在该电子束行底部的电子检测器执行该收集,该方法也关于基于该收集执行相对于该电子束行之平台的对准校正。
申请公布号 TW201611090 申请公布日期 2016.03.16
申请号 TW104114135 申请日期 2015.05.04
申请人 英特尔股份有限公司 发明人 柏拉多司凯 颜;尼尔森 唐诺德;菲利浦 马克
分类号 H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项 一种位于电子束工具的平台上之晶圆的即时对准方法,该方法包括:从该晶圆的底层图形特征收集反向散射电子,而该电子束工具的电子束行在该平台的扫描期间写入,藉由配置在该电子束行底部的电子检测器执行该收集;以及基于该收集执行相对于该电子束行之该平台的对准校正。
地址 美国