发明名称 PCB假负片结构及其生产方法
摘要 本发明公开了一种PCB假负片结构及其生产方法,改变了镀铜、塞孔和干膜等主要作业的流程,并且改变了铜层的结构,将镀铜分两次进行,并且控制一铜厚度为0.6mil,一铜后即进行负片干膜作业,然后再进行二铜使铜层的厚度达到要求后再进行树脂塞孔作业,这样干膜所覆盖的总铜厚降低至1mil,制成的PCB假负片由下至上依次由绝缘基板、底铜层、一铜层、二铜层和镀锡层构成,并且底铜层厚度为0.4mil,一铜层厚度为0.6mil,二铜层厚度为0.5mil,镀锡层厚度为0.25mil,使蚀铜总厚度降低至1mil,可有效降低蚀刻时蚀铜难度,降低蚀刻不净报废。
申请公布号 CN105407647A 申请公布日期 2016.03.16
申请号 CN201510990922.6 申请日期 2015.12.24
申请人 竞陆电子(昆山)有限公司 发明人 李泽清
分类号 H05K3/06(2006.01)I;H05K3/46(2006.01)I 主分类号 H05K3/06(2006.01)I
代理机构 昆山四方专利事务所 32212 代理人 盛建德;周雅卿
主权项 一种PCB假负片结构,其特征在于:PCB假负片由下至上依次由绝缘基板(1)、底铜层(2)、一铜层(3)、二铜层(4)和镀锡层(5)构成,PCB假负片具有若干导通孔(6),所述导通孔的内壁由内向外依次具有一铜层和二铜层,所述导通孔内填塞满树脂(7),所述导通孔的顶端为镀锡层,所述底铜层的厚度为0.4mil,所述一铜层的厚度为0.6mil,所述二铜层的厚度为0.5mil,所述镀锡层的厚度为0.25mil。
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