发明名称 | 用于自动验证半导体工艺制作方法的方法及设备 | ||
摘要 | 本文提供了用于自动验证半导体工艺步骤的方法及设备。在一些实例中,一种用于验证半导体工艺制作方法的方法包括以下步骤:选择规则集,所述规则集描述半导体处理工具的操作窗口;相对于所述规则集的限制核对规则来核对参数值以产生第一结果,所述参数值由所述半导体工艺制作方法中的步骤定义;使用所述规则集的步骤定义规则,根据所述半导体工艺制作方法中的所述步骤确定步骤类型,以产生第二结果;相对于所述规则集的步骤转变规则来核对所述步骤类型之间的转变,以产生第三结果;以及基于所述第一结果、所述第二结果及所述第三结果,使用所述计算机产生验证数据,以供使用所述半导体处理工具的所述半导体工艺制作方法使用。 | ||
申请公布号 | CN103080939B | 申请公布日期 | 2016.03.16 |
申请号 | CN201180038376.6 | 申请日期 | 2011.08.31 |
申请人 | 应用材料公司 | 发明人 | C·哈迪;R·A·林德利 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 胡林岭;侯颖媖 |
主权项 | 一种验证半导体工艺制作方法的计算机实施方法,所述方法包括如下步骤:选择规则集,所述规则集描述半导体处理工具的操作窗口;相对于所述规则集的限制核对规则来核对参数值以产生第一结果,所述参数值由所述半导体工艺制作方法中的步骤定义;使用所述规则集的步骤定义规则,根据所述半导体工艺制作方法中的所述步骤确定步骤类型,以产生第二结果;相对于所述规则集的步骤转变规则来核对所述步骤类型之间的转变,以产生第三结果;以及基于所述第一结果、所述第二结果及所述第三结果,使用所述计算机产生验证数据,以供使用所述半导体处理工具的所述半导体工艺制作方法使用。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |