发明名称 用于自动验证半导体工艺制作方法的方法及设备
摘要 本文提供了用于自动验证半导体工艺步骤的方法及设备。在一些实例中,一种用于验证半导体工艺制作方法的方法包括以下步骤:选择规则集,所述规则集描述半导体处理工具的操作窗口;相对于所述规则集的限制核对规则来核对参数值以产生第一结果,所述参数值由所述半导体工艺制作方法中的步骤定义;使用所述规则集的步骤定义规则,根据所述半导体工艺制作方法中的所述步骤确定步骤类型,以产生第二结果;相对于所述规则集的步骤转变规则来核对所述步骤类型之间的转变,以产生第三结果;以及基于所述第一结果、所述第二结果及所述第三结果,使用所述计算机产生验证数据,以供使用所述半导体处理工具的所述半导体工艺制作方法使用。
申请公布号 CN103080939B 申请公布日期 2016.03.16
申请号 CN201180038376.6 申请日期 2011.08.31
申请人 应用材料公司 发明人 C·哈迪;R·A·林德利
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 胡林岭;侯颖媖
主权项 一种验证半导体工艺制作方法的计算机实施方法,所述方法包括如下步骤:选择规则集,所述规则集描述半导体处理工具的操作窗口;相对于所述规则集的限制核对规则来核对参数值以产生第一结果,所述参数值由所述半导体工艺制作方法中的步骤定义;使用所述规则集的步骤定义规则,根据所述半导体工艺制作方法中的所述步骤确定步骤类型,以产生第二结果;相对于所述规则集的步骤转变规则来核对所述步骤类型之间的转变,以产生第三结果;以及基于所述第一结果、所述第二结果及所述第三结果,使用所述计算机产生验证数据,以供使用所述半导体处理工具的所述半导体工艺制作方法使用。
地址 美国加利福尼亚州