发明名称 Mo准直器及使用该Mo准直器的X射线检测器、X射线检查装置以及CT装置
摘要 本发明提供了一种Mo准直器及使用该Mo准直器的X射线检测器、X射线检查装置以及CT装置。根据实施方式,Mo准直器具有对板厚为0.02~0.3mm的Mo板进行层叠的层叠体结构。Mo板中设置有多个短边或直径为0.1~1.0mm的孔部。各孔部形成贯通层叠体的上表面到下表面的贯通孔。
申请公布号 CN102971644B 申请公布日期 2016.03.16
申请号 CN201180029382.5 申请日期 2011.09.13
申请人 株式会社东芝;东芝高新材料公司 发明人 笠本诚;山本慎一
分类号 G01T7/00(2006.01)I;A61B6/06(2006.01)I;G21K1/02(2006.01)I 主分类号 G01T7/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 张鑫
主权项 一种X射线检测器,其特征在于,该X射线检测器包括依次层叠的Mo准直器、与所述Mo准直器相邻接的闪烁层、及与所述闪烁层相邻的光电转换部,所述Mo准直器具有对板厚为0.02mm以上0.3mm以下的Mo板进行层叠的层叠体结构,在所述Mo板上设置有多个短边为0.1mm以上1.0mm以下的孔部或设置有多个直径为0.1mm以上1.0mm以下的孔部,各所述孔部形成贯通所述层叠体结构的上表面到下表面的贯通孔,所述贯通孔的剖面为直线或者阶差形状,所述阶差形状为0以上0.01mm以内,所述阶差形状超过0且在0.010mm以下的阶差区域位于端部区域,所述阶差形状为0mm的非阶差区域位于中心区域。
地址 日本东京