发明名称 |
Mo准直器及使用该Mo准直器的X射线检测器、X射线检查装置以及CT装置 |
摘要 |
本发明提供了一种Mo准直器及使用该Mo准直器的X射线检测器、X射线检查装置以及CT装置。根据实施方式,Mo准直器具有对板厚为0.02~0.3mm的Mo板进行层叠的层叠体结构。Mo板中设置有多个短边或直径为0.1~1.0mm的孔部。各孔部形成贯通层叠体的上表面到下表面的贯通孔。 |
申请公布号 |
CN102971644B |
申请公布日期 |
2016.03.16 |
申请号 |
CN201180029382.5 |
申请日期 |
2011.09.13 |
申请人 |
株式会社东芝;东芝高新材料公司 |
发明人 |
笠本诚;山本慎一 |
分类号 |
G01T7/00(2006.01)I;A61B6/06(2006.01)I;G21K1/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
张鑫 |
主权项 |
一种X射线检测器,其特征在于,该X射线检测器包括依次层叠的Mo准直器、与所述Mo准直器相邻接的闪烁层、及与所述闪烁层相邻的光电转换部,所述Mo准直器具有对板厚为0.02mm以上0.3mm以下的Mo板进行层叠的层叠体结构,在所述Mo板上设置有多个短边为0.1mm以上1.0mm以下的孔部或设置有多个直径为0.1mm以上1.0mm以下的孔部,各所述孔部形成贯通所述层叠体结构的上表面到下表面的贯通孔,所述贯通孔的剖面为直线或者阶差形状,所述阶差形状为0以上0.01mm以内,所述阶差形状超过0且在0.010mm以下的阶差区域位于端部区域,所述阶差形状为0mm的非阶差区域位于中心区域。 |
地址 |
日本东京 |