一种一体化X荧光分析仪

摘要

本实用新型公开了一种一体化X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品自旋测试平台、嵌入式计算机、摄像头和数码控制转换器、真空系统和真空室；所述激发光源装置通过数码控制转换器与所述嵌入式计算机连接，所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SUPER-SDD电制冷探测器，所述信号处理装置与所述嵌入式计算机连接，所述滤光片准直器控制系统连接一电机驱动装置，所述摄像头设置在样品自旋测试平台的底部，所述样品自旋测试平台设有在真空室内。本实用新型设计合理、结构简单、安装操作方便、抗干扰能力强、测试平台能够旋转，有效避免对不均匀的样品及表面有条痕的样品测量不准确的情况，通用性强。

主权项

一种一体化X荧光分析仪，其特征在于,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品自旋测试平台、嵌入式计算机、摄像头和数码控制转换器、真空系统和真空室；所述激发光源装置通过数码控制转换器与所述嵌入式计算机连接，所述激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器，所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SUPER‑SDD电制冷探测器，所述信号处理装置与所述嵌入式计算机连接，所述SUPER‑SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，所述滤光片准直器控制系统设置在所述X射线发生器前，所述滤光片准直器控制系统包括多个可选滤光片和准直器，所述滤光片准直器控制系统连接一电机驱动装置，所述摄像头设置在样品自旋测试平台的底部，所述样品自旋测试平台设有在真空室内。