电子元件测试模组之启闭装置（三）

摘要

电子元件测试模组之启闭装置(三)，其测试模组系设有测试座、盖体及连动框架，该盖体系盖置于测试座上，该连动框架系枢接盖体，并扣合定位于测试座，该启闭装置包含移载机构及启闭单元，该移载机构系设有作至少一方向位移之移载具，以连结装配启闭单元，该启闭单元系设有作至少一方向位移之压抵件及勾具，该压抵件系压抵开启连动框架之扣具，该勾具则勾持连动框架位移而脱离测试座，并利用连动框架带动盖体向外摆动开启，该启闭单元另设有作至少一方向位移之推抵件，以推抵连动框架带动盖体向内摆动，并搭配勾具勾持连动框架扣合定位于测试座，而关闭盖体；藉此，可自动化启闭测试模组，不仅节省人力成本，并缩短启闭作业时间，达到节省成本及提升测试产能之实用效益。

主权项

一种电子元件测试模组之启闭装置(三)，包含：移载机构：系设有至少一移送器，以驱动至少一移载具作至少一方向位移；启闭单元：系装配于该移载机构之移载具，并设有至少一压抵件及勾具，该压抵件系作至少一方向位移，以压抵开启该测试模组之连动框架的扣具，该勾具系作至少一方向位移，以勾持该连动框架带动该测试模组之盖体摆动开启，该启闭单元另设有至少一推抵件，该推抵件系作至少一方向位移，以推抵该连动框架带动该盖体摆动关闭。