积层偏光膜的缺陷检查方法、制造方法以及制造装置

摘要

积层偏光膜的制造步骤，系包含：第一积层步骤(I)，将偏光片保护薄膜(2)积层在偏光片薄膜(1)来获得偏光膜(3)；以及第二积层步骤(II)，将脱模薄膜(4)积层在利用第一积层步骤(I)所获得的偏光膜(3)之其中一边的表面侧并且将护膜(5)积层在另外一边的表面侧来获得积层偏光膜(6)，其中，对所获得的积层偏光膜的缺陷检查方法系包含：对利用第一积层步骤(I)所获得的偏光膜(3)进行的第一透射交叉检查(10)、第一反射散射检查(20)、第一透射散射检查(30)、以及对利用第二积层步骤(II)所获得的积层偏光膜(6)进行的第二反射散射检查(40)、第二透射散射检查(50)、第二透射交叉检查(60)。

主权项

一种积层偏光膜的缺陷检查方法，系用以检查经由包含下述步骤的前述积层偏光膜的制造步骤所获得的前述积层偏光膜的缺陷之方法：将偏光片保护薄膜积层在偏光片薄膜来获得偏光膜的第一积层步骤、以及介由黏着剂层将脱模薄膜积层在藉由前述第一积层步骤所获得的偏光膜之其中一边的表面侧并且将护膜积层在另外一边的表面侧来获得积层偏光膜的第二积层步骤，其特征为：对于藉由前述第一积层步骤所获得的偏光膜进行下述检查：第一透射交叉检查，从其中一边的表面侧照射振动面相对于前述偏光片薄膜的吸收轴系呈平行的直线偏光来检测透射的透射光；第一透射散射检查，从其中一边的表面侧照射包含振动面相对于前述偏光片薄膜的吸收轴系呈正交的直线偏光之光线，而在与该照射光的光轴偏离的轴上检测透射光，并且从另外一边的表面侧照射包含振动面相对于前述偏光片薄膜的吸收轴系呈正交的直线偏光之照射光来检测透射的透射光；以及第一反射散射检查，从其中一边的表面侧照射照射光并且检测反射的反射光中朝向从照射光的正反射方向偏离的方向之反射光成分，对于藉由前述第二积层步骤所获得的积层偏光膜进行
下述检查：第二透射交叉检查，从其中一边的表面侧照射振动面相对于前述偏光片薄膜的吸收轴系呈平行的直线偏光来检测透射光；第二透射散射检查，从其中一边的表面侧照射包含振动面相对于前述偏光片薄膜的吸收轴系呈正交的直线偏光之光线，而在与该直线偏光的光轴偏离的轴上检测透射光；以及第二反射散射检查，从其中一边的表面侧照射照射光并且检测反射的反射光中朝向从照射光的正反射方向偏离的方向之反射光成分，并且从另外一边的表面侧照射照射光并且检测反射的反射光中朝向从照射光的正反射方向偏离的方向之反射光成分。