一种测试B超机主板的方法及其程序

摘要

本发明公开了一种测试B超机主板的方法及其程序，通过在一种在线测试仪的平台上，编制针对所述B超机主板的测试程序实现的，包括预短路测试、开短路测试、元件测试、IC空焊测试、上电测试、数字测试、模数混合测试等步骤，全面测试了B超机主板上单个元件的性能和整个主板的功能，提升了测试涵盖率，使测试涵盖率从由原先的60％提升至89％。该发明的一种测试B超机主板的方法，测试全面，高效。

主权项

一种测试B超机主板的方法，其特征在于，该方法是在一种在线测试仪的平台上，编制针对所述B超机主板的测试程序实现的，所述测试方法包括如下步骤：A.预短路测试；B.开短路测试；C.元件测试；D.IC空焊测试；E.上电测试；F.数字测试；G.模数混合测试；所述步骤A的预短路测试为测试阻抗为0欧姆的元件的电阻；所述步骤B的开短路测试为测试整个B超机主板的电阻；所述步骤D的IC空焊测试为测试所述B超机主板上的IC的焊点质量；所述步骤F的数字测试为测试所述IC的性能；在每个步骤的测试过程中，如果发现异常，则会发出报警，显示不合格，并停止执行测试程序，否则继续下一步骤，直至测试完成。