发明名称 一种无线射频测试中板测校准测试方法
摘要 本发明涉及一种无线射频技术领域,尤其涉及一种无线射频测试中板测校准测试方法,方法步骤包括:从样机抽样获取最集中的gain值,多机服务器构成搭建多机测试环境;将所述统计好的校准gain值批量写入DUT中;对写入固定gain值的DUT做部分抽检。本发明不仅测试时间由原来的无线校准至少90秒以上降低至30秒以内,而且不需要使用射频环境使得测试的稳定性也大幅提高;这样既可以为生产节省大量射频仪器降低测试工具成本,而且可以提升生产测试的效率和稳定性。
申请公布号 CN104158613B 申请公布日期 2016.03.16
申请号 CN201410446827.5 申请日期 2014.09.04
申请人 太仓市同维电子有限公司 发明人 朱晓龙;宁建;黄亮
分类号 H04B17/11(2015.01)I;H04B17/21(2015.01)I 主分类号 H04B17/11(2015.01)I
代理机构 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人 王海洋
主权项 一种无线射频测试中板测校准测试方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一,从样机抽样,对所有样机的DUT进行无线校准和测试,然后记录所有DUT上板子的校准数据,统计并分析出所有校准gain值的集中值;步骤二,使用一个多口的交换机以及一个wan上行板子做为多机服务器,在多机服务器中配置好对应的vlan,搭建多机测试环境;步骤三,使用多机服务器将所述统计好的校准gain值批量写入DUT中;步骤四,对写入固定gain值的DUT做部分抽检,获取DUT中的gain值,控制无线RF测试仪器发送指定模式和幅度的调制信号,向DUT下发无线指令接收无线数据包获取DUT接收性能指标,在测试完接收性能指标之后,下发指令使DUT停止接收无线数据包,待DUT停止接收无线数据包之后,下发指令使DUT发射指定模式和幅度的调制信号,在DUT发射完成调制信号之后,控制无线RF测试仪器接收DUT发射信号并分析出DUT发射性能指标。
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