发明名称 |
波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法 |
摘要 |
一种波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置,包括准直光源、圆起偏器、第一可变延迟器、第二可变延迟器、检偏器、光电探测器和信号处理系统。本发明能实时测量波片的相位延迟量和快轴方位角,而且没有机械转动器件,无需复杂的信号调制解调单元,结构简单,测量时间较短,测量范围宽。 |
申请公布号 |
CN105403382A |
申请公布日期 |
2016.03.16 |
申请号 |
CN201510708498.1 |
申请日期 |
2015.10.27 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
曾爱军;顾帅妍;朱玲琳;黄惠杰 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
张泽纯;张宁展 |
主权项 |
一种波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置,其特征在于,包括准直光源(1)、圆起偏器(2)、第一可变延迟器(4)、第二可变延迟器(5)、检偏器(6)、光电探测器(7)和信号处理系统(8);上述各部件的位置关系是:沿所述的准直光源的光束前进方向依次是所述的圆起偏器、第一可变延迟器、第二可变延迟器、检偏器和光电探测器,该光电探测器的输出端与所述的信号处理系统的输入端相连,在所述的圆起偏器和第一可变延迟器之间设有供待测波片放置的插口。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱 |