发明名称 Semiconductor device and method of manufacturing the same
摘要 반도체 소자 및 그 제조 방법에서, 반도체 소자는 기판 상에 형성되고, 상기 기판의 제1 영역에는 제1 폴리실리콘 패턴, 상기 제1 폴리실리콘 패턴보다 낮은 저항을 갖는 제1 도전 패턴 및 제1 마스크 패턴이 적층된 제1 도전성 구조물들이 구비된다. 상기 기판의 제2 영역에는, 제2 폴리실리콘 패턴, 제1 도전 패턴과 다른 두께를 갖는 제2 도전 패턴 및 제2 마스크 패턴이 적층되고, 상기 제1 도전성 구조물과 동일한 전체 두께를 갖는 제2 도전성 구조물들이 구비된다. 상기 반도체 소자는 동일한 전체 두께를 가지면서 각 도전 패턴들의 두께가 서로 다른 도전성 구조물들이 포함됨으로써, 저저항 및 빠른 동작 속도를 갖는다.
申请公布号 KR101603500(B1) 申请公布日期 2016.03.15
申请号 KR20080125137 申请日期 2008.12.10
申请人 삼성전자주식회사 发明人 원대중
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
地址