| 摘要 |
커넥터가 형성된 회로기판 및 패널을 포함하는 전자 디바이스를 검사하는 전자 디바이스의 검사장치가 개시되며, 상기 전자 디바이스의 검사장치는 전자 디바이스의 커넥터에 전기적으로 접촉하여 상기 전자 디바이스의 검사를 수행하는 검사블록부를 포함하되, 상기 검사블록부는 상하방향으로 형성된 복수의 홀; 상기 홀에 배치되고, 상기 커넥터에 접촉 가능하도록 구비된 복수의 프로브핀; 및 하부면에 상기 커넥터가 삽입되도록 상측으로 함몰되어 형성되는 함몰부를 포함한다. |
