发明名称 動径基底関数ネットワークおよび超立方体を使用した半導体処理機器における偏位の分類
摘要 第1のノードを作成することと、第1のノードの第1の超立方体を決定することと、サンプルが第1の超立方体内に存在するか否かを決定することとを含む、データを解析するための方法及びシステム。サンプルが第1の超立方体内に存在しない場合、この方法は、サンプルが、第1の超立方体の対角線に等しい半径を有する第1の超球内に存在するか否かを決定することを含む。【選択図】図2
申请公布号 JP2016507832(A) 申请公布日期 2016.03.10
申请号 JP20150553783 申请日期 2014.01.14
申请人 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドAPPLIED MATERIALS,INCORPORATED 发明人 キャントウェル, ダーモット
分类号 G06N7/00 主分类号 G06N7/00
代理机构 代理人
主权项
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