发明名称 |
動径基底関数ネットワークおよび超立方体を使用した半導体処理機器における偏位の分類 |
摘要 |
第1のノードを作成することと、第1のノードの第1の超立方体を決定することと、サンプルが第1の超立方体内に存在するか否かを決定することとを含む、データを解析するための方法及びシステム。サンプルが第1の超立方体内に存在しない場合、この方法は、サンプルが、第1の超立方体の対角線に等しい半径を有する第1の超球内に存在するか否かを決定することを含む。【選択図】図2 |
申请公布号 |
JP2016507832(A) |
申请公布日期 |
2016.03.10 |
申请号 |
JP20150553783 |
申请日期 |
2014.01.14 |
申请人 |
アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドAPPLIED MATERIALS,INCORPORATED |
发明人 |
キャントウェル, ダーモット |
分类号 |
G06N7/00 |
主分类号 |
G06N7/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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