发明名称 Verfahren zum optischen Messen von Strukturen eines Objekts
摘要 Verfahren zur Bestimmung von zumindest einer Struktur eines Objektes mittels zumindest einer in einem Koordinatenmessgerät integrierten, eine mehrere Pixel aufweisende Kamera enthaltenden optischen Sensorik, wobei mehrere Oberflächenpunkte des Objektes zur Bestimmung der Oberflächenstruktur gemessen werden, wobei von dem Objekt am gleichen oder nahezu gleichen Messort oder -bereich zumindest zwei Messungen mit unterschiedlichen Lichtmengen mittels optischen Fokusverfahrens durchgeführt werden, wobei mehrere Bilder zumindest eines Teils des im Messort oder -bereich des optischen Sensors befindlichen Ausschnittes der Objektoberfläche in verschiedenen Entfernungen zwischen der Kamera und Objektoberfläche aufgenommen und verarbeitet werden, wobei während der Änderung der Entfernung zwischen der Kamera und der Objektoberfläche Bilder der zumindest zwei Messungen mit den unterschiedlichen Lichtmengen aufgenommen und auf eine gemeinsame Lichtmenge normiert werden, wobei normierte Bilder zu einem Gesamtergebnis kombiniert werden und für jedes Kamerapixel oder einen oder mehrere Bereiche von Kamerapixeln der Ort der Oberfläche aus dem Maximum der jeweiligen gemessenen Intensität oder des Kontrastverlaufs über die verschiedenen Entfernungen ermittelt wird.
申请公布号 DE102010017604(B4) 申请公布日期 2016.03.10
申请号 DE20101017604 申请日期 2010.06.25
申请人 WERTH MESSTECHNIK GMBH 发明人
分类号 G01B11/24;G01B11/03;G01B15/00;G01B21/04 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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