发明名称 |
磁记录介质用玻璃基板 |
摘要 |
本发明涉及一种磁记录介质用玻璃基板,具有一对主平面、外周端面和内周端面,其特征在于,所述外周端面具有外周侧表面部和外周倒角部,在所述外周端面上,在以所述磁记录介质用玻璃基板的圆心角计间隔15度而设置的总计24个外周端面测定位置处测定表面粗糙度Ra时,所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下,且所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下。 |
申请公布号 |
CN102930874B |
申请公布日期 |
2016.03.09 |
申请号 |
CN201210369825.1 |
申请日期 |
2012.09.28 |
申请人 |
旭硝子株式会社 |
发明人 |
吉宗大介;大塚晴彦 |
分类号 |
G11B5/84(2006.01)I;G11B5/73(2006.01)I |
主分类号 |
G11B5/84(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
王海川;穆德骏 |
主权项 |
一种磁记录介质用玻璃基板,具有一对主平面、外周端面和内周端面,其特征在于,所述外周端面具有外周侧表面部和配置在外周侧表面部的上下部分且相对于主平面成角度的外周倒角部,在所述外周端面上,在以所述磁记录介质用玻璃基板的圆心角计间隔15度而设置的总计24个外周端面测定位置处以截止值为64μm的条件测定表面粗糙度Ra时,所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下,所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下,两个相邻的外周端面测定位置处的所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的差为0.3μm以下,所述外周倒角部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下,所述外周倒角部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下,且两个相邻的外周端面测定位置处的所述外周倒角部的表面粗糙度Ra的差为0.3μm以下。 |
地址 |
日本东京 |