一种电子产品的性能测试装置

摘要

本实用新型提供一种电子产品的性能测试装置，包括机箱和测试腔，测试腔内设有载物台、升降轴、测试仪器以及导线杆，载物台用于承载电子产品，所述升降轴为两个，分别安装于载物台的左右两侧，升降轴连接驱动机构以及对电子产品进行测试的测试仪器，驱动机构驱动升降轴做升降运动以改变所述测试仪器的位置，导线杆的上端伸出所述测试腔，导线杆上具有检测测试腔内温度的温度传感器以及调节测试腔内温度的温度调节器。本实用新型通过驱动机构驱动升降轴做升降运动以改变测试仪器的位置，以控制测试探头是否和电子产品形成电连接，避免了工作人员对电子产品进行接线，简化了测试步骤，提高了测试效率。

主权项

一种电子产品的性能测试装置，其特征在于, 包括机箱和测试腔，所述测试腔设置在所述机箱的上方，所述机箱内设有测试主机以及驱动机构，所述测试腔内设有载物台、升降轴、测试仪器以及导线杆，所述载物台用于承载电子产品，所述升降轴为两个，分别安装于所述载物台的左右两侧，所述升降轴连接驱动机构以及对电子产品进行测试的测试仪器，所述驱动机构驱动所述升降轴做升降运动以改变所述测试仪器的位置，所述测试仪器的下方具有测试探头，通过调节测试仪器的位置以控制所述测试探头是否和电子产品形成电连接，所述测试仪器的中间位置连接所述导线杆，所述导线杆的上端伸出所述测试腔，所述导线杆上具有检测所述测试腔内温度的温度传感器以及调节所述测试腔内温度的温度调节器。